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支持定制：中心波长 / 带宽 / 尺寸 / 镀膜
带通滤光片 · Bandpass Filter

选择性透过目标波段，抑制带外杂散光

带通滤光片用于在指定波段范围内实现高透过，同时对带外光进行抑制，从而提升系统对比度与信噪比。 常用于成像系统的谱段筛选、光谱检测、荧光分析、激光线清洁（Line Cleaning）等应用场景。 支持中心波长、带宽、尺寸与镀膜的按需定制。

目标波段高透 带外抑制 支持定制 CWL/FWHM
选型提示 带通滤光片中心波长通常随入射角发生漂移。若系统为大角度或偏振敏感应用，建议在设计阶段明确入射角与偏振状态并定制优化。
核心特点
  • 目标波段高透过，提升信噪比 在选定带宽范围内实现高透过，抑制带外杂散光，提升成像对比度与检测灵敏度。
  • 带外抑制能力强，谱形可定制 可按应用定制中心波长（CWL）、带宽（FWHM）与带外截止策略，适配多类光谱筛选需求。
  • 覆盖可见到近红外，多尺寸可选 支持可见/近红外波段方案，尺寸、镀膜、基底材料可按需定制，便于系统集成。
定制信息（建议提供）
中心波长（CWL）、带宽（FWHM）、最大入射角、偏振状态（S/P/非偏振）、基底材料、尺寸/厚度，以及目标带外抑制要求（OD）。
规格参数
材料BK7 / UVFS（可选）
中心波长（CWL）按需定制
带宽（FWHM）按需定制
尺寸公差按需定制
厚度公差按需定制
表面质量按需定制
通光孔径按需定制
面形 / 平行度按需定制
镀膜带通膜（含增透与带外抑制设计）
注：带通滤光片对入射角与偏振可能敏感；如为大角度工作或高精度谱形要求，建议提供系统入射条件用于膜系优化。
应用场景与选型建议
典型应用
光谱检测与分析、荧光显微/成像系统的激发与发射通道筛选、工业机器视觉、传感器前端谱段筛选、激光线清洁与杂散光抑制等。
选型提示
若系统入射角固定（如 0°/5°/45°），应在需求中明确；若需非偏振或宽角度工作，可定制优化膜系以降低中心漂移与偏振差异。 对带外抑制有更高要求时，可指定 OD（如 OD4/OD6）并确认截止区间。

需要选型建议或定制报价？

欢迎提供：CWL、FWHM、入射角与偏振状态、带外抑制 OD 要求、尺寸/厚度及应用场景（成像/检测/激光线清洁）。

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